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JKXT-VI硅材料测试仪
硅材料测试仪简介：
硅材料电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的硅料,硅棒硅块硅片的电阻率型号测试。
硅材料电阻率测试仪体积小，精度高，测量范围宽，运用四探针原理能够测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻。本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。
硅材料测试仪特点：
适中的体积和便携性，便携式，使用9V供电。
操作简单，测试快速。
同时检测硅半导体材料的电阻率和型号两项指标。
硅材料电阻率测试仪采用220V交流电源供电硅材料综合测试仪。
拥有较高的电阻率测试分辨率，可到0.001 欧姆.厘米”。
能的分辨电阻率在0.002 欧姆.厘米以上的硅半导体材料型号。
*立的P/N 型重掺告警设置，便于工厂大规模快速选料。
具有电阻率及型号测试功能，适合分选型号，并能够测试并显示出电阻率的值。
预设样片厚度，自动修正，直读电阻率
报警门限预设0-1.0，按0.1步进，0不报警
整机尺寸：92×140×24 mm
电阻率:0.01-50欧姆厘米
P/N型号:0.1欧姆厘米<电阻率<500欧姆厘米